晶振測(cè)試儀采用型網(wǎng)絡(luò)零相位法實(shí)現(xiàn)等精度測(cè)量。高精度晶振綜合測(cè)試儀GDS-80測(cè)量精度高，速度快；具有串聯(lián)諧振頻率、負(fù)載諧振頻率、串聯(lián)諧振電阻、負(fù)載諧振電阻、PPM值、靜電容等參數(shù)測(cè)量，可保存5個(gè)不同晶振頻率和負(fù)載電容參數(shù)，負(fù)載電容在2-20P范圍內(nèi)任意編程設(shè)置，從滿足不同負(fù)載電容的晶振測(cè)試，智能運(yùn)算克服了市場(chǎng)上晶體阻抗計(jì)阻抗數(shù)值顯示不明顯的缺點(diǎn)、解除了手工校對(duì)的麻煩，讓晶振測(cè)試變得更輕松。性能特點(diǎn) 1. 阻抗值、ppm同時(shí)顯示 2. 無(wú)需人工校對(duì)，直接測(cè)試多種參數(shù) 3. 新技術(shù)，符合IEC-444標(biāo)準(zhǔn)，滿足國(guó)人需求，可替代進(jìn)口設(shè)備 4. LCD顯示PPm超標(biāo)提示功能